- Tytuł :
- Characterizing slow state near Si-SiO 2 in MOS structure.
- Autorzy :
- Źródło :
- Phosphorus, Sulfur & Silicon & the Related Elements. 2018, Vol. 193 Issue 2, p88-91. 4p.
-
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.