Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

Process-induced defects in Au-hyperdoped Si photodiodes.

Tytuł :
Process-induced defects in Au-hyperdoped Si photodiodes.
Autorzy :
Lim, S. Q. (AUTHOR)
Lew, C. T.-K. (AUTHOR)
Chow, P. K. (AUTHOR)
Warrender, J. M. (AUTHOR)
Williams, J. S. (AUTHOR)
Johnson, B. C. (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło :
Journal of Applied Physics. 12/14/2019, Vol. 126 Issue 22, p1-9. 9p. 1 Diagram, 1 Chart, 6 Graphs.
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies