- Tytuł :
- Process-induced defects in Au-hyperdoped Si photodiodes.
- Autorzy :
- Źródło :
- Journal of Applied Physics. 12/14/2019, Vol. 126 Issue 22, p1-9. 9p. 1 Diagram, 1 Chart, 6 Graphs.
-
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.