Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Characterisation of AlN nano thin films prepared by PLD.

Szczegóły
Pełny tekst

Tytuł:: Characterisation of AlN nano thin films prepared by PLD.
Autorzy:: Hua, T. S. (AUTHOR)
Zhu, B. (AUTHOR)
Song, R. G. (AUTHOR)
Źródło:: Surface Engineering. Jan2020, Vol. 36 Issue 1, p55-62. 8p.
: Czasopismo naukowe

Pełny tekst

Zaloguj się, aby uzyskać dostęp do pełnego tekstu.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Characterisation of AlN nano thin films prepared by PLD.