Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

Degradation in AlGaN-based UV-C LEDs under constant current stress: A study on defect behaviors.

Tytuł :
Degradation in AlGaN-based UV-C LEDs under constant current stress: A study on defect behaviors.
Autorzy :
Wang, Ying-Zhe (AUTHOR)
Zheng, Xue-Feng (AUTHOR)
Zhu, Jia-Duo (AUTHOR)
Xu, Lin-Lin (AUTHOR)
Xu, Sheng-Rui (AUTHOR)
Liang, Ren-Li (AUTHOR)
Dai, Jiang-Nan (AUTHOR)
Li, Pei-Xian (AUTHOR)
Zhou, Xiao-Wei (AUTHOR)
Mao, Wei (AUTHOR)
Zhang, Jin-Cheng (AUTHOR)
Ma, Xiao-Hua (AUTHOR)
Hao, Yue (AUTHOR)
Pokaż więcej
Źródło :
Applied Physics Letters. 5/18/2020, Vol. 116 Issue 20, p1-5. 5p. 1 Diagram, 4 Graphs.
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies