Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Improved measurement of electric fields by nanobeam precession electron diffraction.

Szczegóły

Tytuł:: Improved measurement of electric fields by nanobeam precession electron diffraction.
Autorzy:: Bruas, L. (AUTHOR)
Boureau, V. (AUTHOR)
Conlan, A. P. (AUTHOR)
Martinie, S. (AUTHOR)
Rouviere, J.-L. (AUTHOR)
Cooper, D. (AUTHOR)
Źródło:: Journal of Applied Physics. 5/29/2020, Vol. 127 Issue 20, p1-6. 6p. 1 Chart, 3 Graphs.
: Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Improved measurement of electric fields by nanobeam precession electron diffraction.