Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Concepts for chemical state analysis at constant probing depth by lab‐based XPS/HAXPES combining soft and hard X‐ray sources.

Szczegóły

Tytuł:: Concepts for chemical state analysis at constant probing depth by lab‐based XPS/HAXPES combining soft and hard X‐ray sources.
Autorzy:: Siol, Sebastian (AUTHOR)
Mann, Jennifer (AUTHOR)
Newman, John (AUTHOR)
Miyayama, Takuya (AUTHOR)
Watanabe, Katsumi (AUTHOR)
Schmutz, Patrik (AUTHOR)
Cancellieri, Claudia (AUTHOR)
Jeurgens, Lars P.H. (AUTHOR)
Źródło:: Surface & Interface Analysis: SIA. Dec2020, Vol. 52 Issue 12, p802-810. 9p.
: Czasopismo naukowe

Full Text Finder

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Concepts for chemical state analysis at constant probing depth by lab‐based XPS/HAXPES combining soft and hard X‐ray sources.