Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Simulation of Carrier Trapping in an Embedded Nanowire and Its Effect in the Nano-EBIC Technique.

Szczegóły
Pełny tekst

Tytuł:: Simulation of Carrier Trapping in an Embedded Nanowire and Its Effect in the Nano-EBIC Technique.
Autorzy:: El Hdiy, A. (AUTHOR)
Ledra, M. (AUTHOR)
Źródło:: Semiconductors. 2021, Vol. 55 Issue 1, p56-60. 5p.
: Czasopismo naukowe

Pełny tekst

Zaloguj się, aby uzyskać dostęp do pełnego tekstu.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Simulation of Carrier Trapping in an Embedded Nanowire and Its Effect in the Nano-EBIC Technique.