- Tytuł:
- Charge Properties of Thorium Implanted in Silicon Oxide.
- Autorzy:
- Źródło:
- Physics of Atomic Nuclei. Dec2020, Vol. 83 Issue 11, p1569-1574. 6p.
- Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.