Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Charge Properties of Thorium Implanted in Silicon Oxide.

Szczegóły
Pełny tekst

Tytuł:: Charge Properties of Thorium Implanted in Silicon Oxide.
Autorzy:: Kurelchuk, U. N. (AUTHOR)
Borisyuk, P. B. (AUTHOR)
Nikolaev, A. V. (AUTHOR)
Tkalya, E. V. (AUTHOR)
Źródło:: Physics of Atomic Nuclei. Dec2020, Vol. 83 Issue 11, p1569-1574. 6p.
: Czasopismo naukowe

Pełny tekst

Zaloguj się, aby uzyskać dostęp do pełnego tekstu.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Charge Properties of Thorium Implanted in Silicon Oxide.