Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Practical measurement of the energy resolution for meV‐resolved inelastic X‐ray scattering.

Szczegóły

Tytuł:: Practical measurement of the energy resolution for meV‐resolved inelastic X‐ray scattering.
Autorzy:: Ishikawa, Daisuke (AUTHOR)
Baron, Alfred Q. R. (AUTHOR)
Źródło:: Journal of Synchrotron Radiation. May2021, Vol. 28 Issue 3, p804-811. 8p.
: Czasopismo naukowe

Pełny tekst

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Practical measurement of the energy resolution for meV‐resolved inelastic X‐ray scattering.