Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Synchrotron X-ray diffraction observation of phase transformation during annealing of Si processed by high-pressure torsion.

Szczegóły
Pełny tekst

Tytuł:: Synchrotron X-ray diffraction observation of phase transformation during annealing of Si processed by high-pressure torsion.
Autorzy:: Ikoma, Yoshifumi (AUTHOR)
Yamasaki, Terumasa (AUTHOR)
Masuda, Takahiro (AUTHOR)
Tange, Yoshinori (AUTHOR)
Higo, Yuji (AUTHOR)
Ohishi, Yasuo (AUTHOR)
McCartney, Martha R. (AUTHOR)
Smith, David J. (AUTHOR)
Horita, Zenji (AUTHOR)
Źródło:: Philosophical Magazine Letters. Jun2021, Vol. 101 Issue 6, p223-231. 9p.
: Czasopismo naukowe

Pełny tekst

Zaloguj się, aby uzyskać dostęp do pełnego tekstu.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Synchrotron X-ray diffraction observation of phase transformation during annealing of Si processed by high-pressure torsion.