- Tytuł:
- A time-dependent technique for carrier recombination and generation lifetime measurement in SOI MOSFET
- Autorzy:
- Źródło:
- Solid-State Electronics. Nov2008, Vol. 52 Issue 11, p1773-1777. 5p.
- Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.