Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

JEOL Cold Field-Emission Gun Enhances Atomic-Level Resolution.

Szczegóły

Tytuł:: JEOL Cold Field-Emission Gun Enhances Atomic-Level Resolution.
Autorzy:: Wagner, Larry
Źródło:: Electronic Device Failure Analysis. Nov2010, Vol. 12 Issue 4, p40-40. 1/2p.
: Czasopismo naukowe

Pełny tekst

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

JEOL Cold Field-Emission Gun Enhances Atomic-Level Resolution.