Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Intermittent failure process and false alarm interaction modelling of threshold-based monitoring built-in tests (BITs).

Tytuł:
Intermittent failure process and false alarm interaction modelling of threshold-based monitoring built-in tests (BITs).
Autorzy:
Cui, Yiqian (AUTHOR)
Shi, Junyou (AUTHOR)
Wang, Zili (AUTHOR)
Źródło:
International Journal of Production Research. Mar2016, Vol. 54 Issue 6, p1610-1626. 17p.
Czasopismo naukowe
Zaloguj się, aby uzyskać dostęp do pełnego tekstu.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies