Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

Backside Thermal Fault Localization Using Laser Scanning Confocal Thermoreflectance Microscopy Based on Auto-Balanced Detection.

Tytuł :
Backside Thermal Fault Localization Using Laser Scanning Confocal Thermoreflectance Microscopy Based on Auto-Balanced Detection.
Autorzy :
Kim, Dong Uk
Kim, Jung Dae
Han, Ilkyu
Jeong, Chan Bae
Lee, Kye-Sung
Hur, Hwan
Nam, Ki-Hwan
Bae, Ji Yong
Kim, I Jong
Chang, Ki Soo
Pokaż więcej
Źródło :
IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement. Jun2020, Vol. 69 Issue 6, p2914-2923. 10p.
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies