Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Layout Feature Extraction Using CNN Classification in Root Cause Analysis of LSI Defects.

Szczegóły

Tytuł:: Layout Feature Extraction Using CNN Classification in Root Cause Analysis of LSI Defects.
Autorzy:: Nagamura, Yoshikazu (AUTHOR)
Arima, Koji (AUTHOR)
Arai, Masayuki (AUTHOR)
Fukumoto, Satoshi (AUTHOR)
Źródło:: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. May2021, Vol. 34 Issue 2, p153-160. 8p.
: Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Layout Feature Extraction Using CNN Classification in Root Cause Analysis of LSI Defects.