Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Digital Performance Assessment of the Dual-Material Gate GaAs/InAs/Ge Junctionless TFET.

Szczegóły

Tytuł:: Digital Performance Assessment of the Dual-Material Gate GaAs/InAs/Ge Junctionless TFET.
Autorzy:: Vadizadeh, Mahdi
Źródło:: IEEE Transactions on Electron Devices. Apr2021, Vol. 68 Issue 4, p1986-1991. 6p.
: Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Digital Performance Assessment of the Dual-Material Gate GaAs/InAs/Ge Junctionless TFET.