Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

Distortion of the oxygen sublattice in pure cubic-ZrO2.

Tytuł :
Distortion of the oxygen sublattice in pure cubic-ZrO2.
Autorzy :
Wang, C. M.
Azad, S.
Thevuthasan, S.
Shutthanandan, V.
McCready, D. E.
Peden, C. H. F.
Pokaż więcej
Temat :
ZIRCONIUM oxide
ELECTRON diffraction
MOLECULAR beams
THIN films
EPITAXY
DIFFRACTION patterns
Źródło :
Journal of Materials Research; May2004, Vol. 19 Issue 5, p1315-1319, 5p, 4 Black and White Photographs
Czasopismo naukowe
Multilayer films of pure ZrO2 and CeO2 were grown using molecular beam epitaxy on a yttria-stabilized zirconia (YSZ) substrate. Distinctive forbidden diffraction spots of (odd, odd, even) type were observed on the selected-area electron-diffraction patterns of the film. Dark-field imaging clearly revealed that these forbidden diffraction spots were solely due to the ZrO2 layers. Comparison of the electron diffraction pattern with that simulated by dynamical calculations suggest that the pure ZrO2 layers possess a cubic structure of space with the group P4 3m oxygen sublattice being displaced diagonally, rather than along the c axis as suggested for YSZ. Our results further suggest that the displacement of the oxygen from the ideal (¼, ¼, ¼) position might have been introduced during the film growth process. [ABSTRACT FROM AUTHOR]
Copyright of Journal of Materials Research is the property of Cambridge University Press and its content may not be copied or emailed to multiple sites or posted to a listserv without the copyright holder's express written permission. However, users may print, download, or email articles for individual use. This abstract may be abridged. No warranty is given about the accuracy of the copy. Users should refer to the original published version of the material for the full abstract. (Copyright applies to all Abstracts.)

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies