Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

Enabling Wavelength-Dependent Adjoint-Based Methods for Process Variation Sensitivity Analysis in Silicon Photonics.

Tytuł :
Enabling Wavelength-Dependent Adjoint-Based Methods for Process Variation Sensitivity Analysis in Silicon Photonics.
Autorzy :
Zhang, Zhengxing
El-Henawy, Sally I.
Sadun, Allan
Miller, Ryan
Daniel, Luca
White, Jacob K.
Boning, Duane S.
Pokaż więcej
Źródło :
IEEE/OSA Journal of Lightwave Technology; 3/15/2021, Vol. 39 Issue 6, p1762-1769, 8p
Czasopismo naukowe
To reach its potential as an emerging technology platform, integrated silicon photonics needs accompanying design-for-manufacturability (DFM) methods and tools to assist the design of silicon photonic devices and circuits. Here, we explore spatial sampling in adjoint-based methods for analysis of the sensitivity of photonic components against key fabrication process variations. We apply and test these spatial sampling adjoint analysis methods to examine the impact of line edge roughness (LER) on a passive Y-branch at a given operating wavelength, achieving about 3% relative error. We extend the approach to also study LER variation sensitivity across a range of wavelengths and validate our results with ensemble virtual fabrication and FDTD simulations. The adjoint sensitivity and variance estimation of Y-branch transmission imbalance is seen to be highly efficient in comparison to direct ensemble simulation, with consistent results in the 95% confidence interval. [ABSTRACT FROM AUTHOR]
Copyright of IEEE/OSA Journal of Lightwave Technology is the property of IEEE and its content may not be copied or emailed to multiple sites or posted to a listserv without the copyright holder's express written permission. However, users may print, download, or email articles for individual use. This abstract may be abridged. No warranty is given about the accuracy of the copy. Users should refer to the original published version of the material for the full abstract. (Copyright applies to all Abstracts.)

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies