Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

SEM Nano: An Electron Wave Optical Simulation for the Scanning Electron Microscope.

Tytuł:
SEM Nano: An Electron Wave Optical Simulation for the Scanning Electron Microscope.
Autorzy:
Kamal, Surya
Hailstone, Richard K.
Źródło:
Microscopy & Microanalysis; Apr2022, Vol. 28 Issue 2, p441-453, 13p
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies