Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Apparatus for Measuring Complete Single-Crystal X-Ray Diffraction Data by Means of a Geiger Counter Diffractometer.

Szczegóły

Tytuł:: Apparatus for Measuring Complete Single-Crystal X-Ray Diffraction Data by Means of a Geiger Counter Diffractometer.
Autorzy:: Furnas, Thomas C.
Harker, David
Źródło:: Review of Scientific Instruments; May1955, Vol. 26 Issue 5, p449-453, 5p
: Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Apparatus for Measuring Complete Single-Crystal X-Ray Diffraction Data by Means of a Geiger Counter Diffractometer.