Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

On-chip spectrum analyzer for analog built-in self test.

Tytuł:
On-chip spectrum analyzer for analog built-in self test.
Autorzy:
Jose, A.P.
Jenkins, K.A.
Reynolds, S.K.
Źródło:
23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05); 2005, p131-136, 6p
Konferencja

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies