Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Advances in X-ray microscopy at FLASH using transmissive optics.

Szczegóły

Tytuł:: Advances in X-ray microscopy at FLASH using transmissive optics.
Autorzy:: Nisius, Thomas
Früke, Rolf
Schäfer, David
Wieland, Marek
Kuhlmann, Marion
Plönjes, Elke
Wilhein, Thomas
Źródło:: Journal of Physics: Conference Series; 2009, Vol. 186 Issue 1, p1-1, 1p
: Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Advances in X-ray microscopy at FLASH using transmissive optics.