Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

Quantitative thermal characterization of microelectronic devices by using CCD-based thermoreflectance microscopy

Tytuł :
Quantitative thermal characterization of microelectronic devices by using CCD-based thermoreflectance microscopy
Autorzy :
Shea, Herbert R.
Ramesham, Rajeshuni
Kim, Dong Uk
Ryu, Seon Young
Kim, Jun Ki
Chang, Ki Soo
Pokaż więcej
Źródło :
Proceedings of SPIE; March 2014, Vol. 8975 Issue: 1 p89750Q-89750Q-7, 807758p
Periodyk

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies