Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

Effective deep learning training method using blur and noise filter to detect defect in TFT-LCD PAD

Tytuł :
Effective deep learning training method using blur and noise filter to detect defect in TFT-LCD PAD
Autorzy :
Beyerer, Jürgen
Heizmann, Michael
Lee, Jae Gu
Yoon, Yeo Min
Kim, Seon Geol
Ha, Chang Woo
Yoon, Seong Baek
Lee, Hyo Jin
Pokaż więcej
Źródło :
Proceedings of SPIE; June 2021, Vol. 11787 Issue: 1 p117870I-117870I-5, 1060836p
Periodyk

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies