Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

Nanocrystal segmentation in scanning precession electron diffraction data

Tytuł :
Nanocrystal segmentation in scanning precession electron diffraction data
Autorzy :
Bergh, Tina
Johnstone, D.N.
Crout, P
Høgås, Simon
Midgley, Paul A.
Holmestad, Randi
Vullum, Per Erik
Van Helvoort, Antonius
Pokaż więcej
Wydawca :
Wiley, 2019.
Rok publikacji :
2019
Kolekcja :
NTNU_Open
Norwegian_Open_Research_Archives
Język :
English
ISSN :
0022-2720
DOI :
10.1111/jmi.12850
Numer akcesji :
edsair.dedup.wf.001..a72d4301ebfcc183bffdb147dd784bda
Scanning precession electron diffraction (SPED) enables the local crystallography of materials to be probed on the nanoscale by recording a two‐dimensional precession electron diffraction (PED) pattern at every probe position as a dynamically rocking electron beam is scanned across the specimen. SPED data from nanocrystalline materials commonly contain some PED patterns in which diffraction is measured from multiple crystals. To analyse such data, it is important to perform nanocrystal segmentation to isolate both the location of each crystal and a corresponding representative diffraction signal. This also reduces data dimensionality significantly. Here, two approaches to nanocrystal segmentation are presented, the first based on virtual dark‐field imaging and the second on non‐negative matrix factorization. Relative merits and limitations are compared in application to SPED data obtained from partly overlapping nanoparticles, and particular challenges are highlighted associated with crystals exciting the same diffraction conditions. It is demonstrated that both strategies can be used for nanocrystal segmentation without prior knowledge of the crystal structures present, but also that segmentation artefacts can arise and must be considered carefully. The analysis workflows associated with this work are provided open‐source. © 2019 The Authors. Journal of Microscopy published by John Wiley & Sons Ltd on behalf of Royal Microscopical Society This is an open access article under the terms of the Creative Commons Attribution License, which permits use, distribution and reproduction in any medium, provided the original work is properly cited.
Zaloguj się, aby uzyskać dostęp do pełnego tekstu.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies