Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

A Comprehensive Approach to a Trusted Test Infrastructure

Tytuł :
A Comprehensive Approach to a Trusted Test Infrastructure
Autorzy :
Merandat, Marc
Reynaud, Vincent
Valea, Emanuele
Quevremont, Jerome
Valette, Nicolas
Maistri, Paolo
Leveugle, Régis
Flottes, Marie-Lise
Dupuis, Sophie
Rouzeyre, Bruno
Di Natale, Giorgio
Pokaż więcej
Temat :
Test
Scan chains
IEEE 1687
BIST
Authentication
Scan chain encryption
[INFO.INFO-CR]Computer Science [cs]/Cryptography and Security [cs.CR]
Źródło :
4th International Verification and Security Workshop
IVSW: International Verification and Security Workshop
IVSW: International Verification and Security Workshop, Jul 2019, Rhodes, Greece
Wydawca :
HAL CCSD, 2019.
Rok publikacji :
2019
Kolekcja :
HAL-Pasteur
Język :
English
ISSN :
02306980
Numer akcesji :
edsair.od......2100..baf056063d51189d813e74caafd2dde6
International audience; The testability of electronic devices is of critical importance and it is often supported by IEEE standards. The available methods, on the other hand, can be an entry point to a malicious attacker, if no proper countermeasure is adopted. In this paper, we report the latest results from the HADES project, presenting a portfolio of solution towards a secure test infrastructure.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies