Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Immunity Characterization of FPGA I/Os for Fault-Tolerant Circuit Designs against EMI

Tytuł:
Immunity Characterization of FPGA I/Os for Fault-Tolerant Circuit Designs against EMI
Autorzy:
NGUYEN, V. T.
DAM, M. T.
SO, J.
LEE, J.-G.
Temat:
immunity
susceptibility
integrated circuit
electromagnetic compatibility
electromagnetic interference
Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
TK1-9971
Computer engineering. Computer hardware
TK7885-7895
Źródło:
Advances in Electrical and Computer Engineering, Vol 19, Iss 2, Pp 37-44 (2019)
Wydawca:
Stefan cel Mare University of Suceava, 2019.
Rok publikacji:
2019
Kolekcja:
LCC:Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
LCC:Computer engineering. Computer hardware
Typ dokumentu:
article
Opis pliku:
electronic resource
Język:
English
ISSN:
1582-7445
1844-7600
Relacje:
https://doaj.org/toc/1582-7445; https://doaj.org/toc/1844-7600
DOI:
10.4316/AECE.2019.02005
Dostęp URL:
https://doaj.org/article/69bb4ba1883445ba836f3cffc69b6039  Link otwiera się w nowym oknie
Numer akcesji:
edsdoj.69bb4ba1883445ba836f3cffc69b6039
Czasopismo naukowe
This paper characterizes the immunity of I/Os under different supply voltages for fault-tolerant circuit designs against electromagnetic interference. The direct power injection approach is used as a means to characterize the immunity of circuits. In this work, the immunity characterization has been performed under two scenarios: (1) an input buffer of a Field Programmable Gate Array (FPGA) followed by a single flip-flop, and (2) the FPGA input buffer followed by a redundancy-based fault-tolerant circuit. The experimental results show that when downscaling the supply voltage through a set of nominal values (i.e., 3.3, 2.5, 1.8, 1.5, 1.2 V), the immunity of I/Os is decreased from the highest level at 3.3 V to the lowest at 1.2 V. Particularly, the maximum difference in the immunity is about 16.8 dB at the frequency of 600 MHz. Moreover, experiments demonstrate that I/O buffers followed by the redundancy-based fault-tolerant circuit can improve the immunity of the circuit up to 4 dB below the frequency band of 400 MHz. Thus, the redundancy-based fault-tolerant circuit can support I/Os to operate reliably in the harsh environment.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies