- Tytuł :
- Radiation damage of Si1-xGex S/D p-type metal oxide semiconductor field effect transistor with different Ge concentrations
- Autorzy :
- Źródło :
- In ICSI-7, Thin Solid Films 1 February 2012 520(8):3337-3340
-
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.