Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

Characterization of silicon surfaces implanted with silver ions at low energy using spectroscopic ellipsometry

Tytuł :
Characterization of silicon surfaces implanted with silver ions at low energy using spectroscopic ellipsometry
Autorzy :
Bazarov, V.V.
Nuzhdin, V.I.
Valeev, V.F.
Stepanov, A.L.
Pokaż więcej
Źródło :
In Vacuum February 2018 148:254-257
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies