- Tytuł:
- Can the electric field in radiation-damaged silicon pad diodes be determined by admittance and current measurements?
- Autorzy:
- Źródło:
- In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 1 April 2022 1028
- Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.