Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

A comprehensive study of enhanced characteristics with localized transition in interface-type vanadium-based devices

Szczegóły

Tytuł:: A comprehensive study of enhanced characteristics with localized transition in interface-type vanadium-based devices
Autorzy:: Lin, C.-Y.
Chen, P.-H.
Chang, T.-C.
Huang, W.-C.
Tan, Y.-F.
Lin, Y.-H.
Chen, W.-C.
Lin, C.-C.
Chang, Y.-F.
Chen, Y.-C.
Huang, H.-C.
Ma, X.-H.
Hao, Y.
Sze, S.M.
Źródło:: In Materials Today Physics June 2020 13
: Czasopismo naukowe

Full Text Finder

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

A comprehensive study of enhanced characteristics with localized transition in interface-type vanadium-based devices