Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Characterization of impurities and defects by electron paramagnetic resonance and related techniques

Szczegóły

Tytuł:: Characterization of impurities and defects by electron paramagnetic resonance and related techniques
Autorzy:: Corbett, James W.
Kleinhenz, Richard L.
Zhi-put, YouAff1, Aff2
Źródło:: Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary September 13–17, 1982. 175:11-49
: Książka elektroniczna

Full Text Finder

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Characterization of impurities and defects by electron paramagnetic resonance and related techniques