Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Infrared spectroscopy of bonded silicon wafers

Szczegóły

Tytuł:: Infrared spectroscopy of bonded silicon wafers
Autorzy:: Milekhin, A. G.
Himcinschi, C.
Friedrich, M.
Hiller, K.
Wiemer, M.
Gessner, T.
Schulze, S.
Zahn, D. R. T.
Źródło:: Semiconductors. November 2006 40(11):1304-1313
: Czasopismo naukowe

Pełny tekst

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Infrared spectroscopy of bonded silicon wafers