Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Test-retest reliability of the computer-assisted DIA-X-5 interview for mental disorders

Szczegóły
Pełny tekst

Tytuł:: Test-retest reliability of the computer-assisted DIA-X-5 interview for mental disorders
Autorzy:: Hoyer, JanaAff1, Aff2
Voss, CatharinaAff1, Aff2
Strehle, JensAff1, Aff3
Venz, JohnAff1, Aff2, Aff3
Pieper, LarsAff1, Aff2, Aff3
Wittchen, Hans-Ulrich
Ehrlich, StefanAff5, Aff6
Beesdo-Baum, KatjaAff1, Aff2, Aff3
Źródło:: BMC Psychiatry. 20(1)
: Czasopismo naukowe

Pełny tekst

Zaloguj się, aby uzyskać dostęp do pełnego tekstu.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Test-retest reliability of the computer-assisted DIA-X-5 interview for mental disorders