Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Co-sputtering of Al1-xScxN thin films on Pt(111): a characterization by Raman and IR spectroscopies

Szczegóły
Pełny tekst

Tytuł:: Co-sputtering of Al1-xScxN thin films on Pt(111): a characterization by Raman and IR spectroscopies
Autorzy:: Solonenko, Dmytro
Lan, Chuanqi
Schmidt, Constance
Stoeckel, ChrisAff2, Aff3
Hiller, KarlaAff2, Aff3
Zahn, Dietrich R. T.
Źródło:: Journal of Materials Science. 55(36):17061-17071
: Czasopismo naukowe

Pełny tekst

Zaloguj się, aby uzyskać dostęp do pełnego tekstu.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Co-sputtering of Al1-xScxN thin films on Pt(111): a characterization by Raman and IR spectroscopies