Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Risk factors and patterns of recurrence after sentinel lymph node biopsy for thin melanoma

Szczegóły

Tytuł:: Risk factors and patterns of recurrence after sentinel lymph node biopsy for thin melanoma
Autorzy:: Kim, Daniel
Chu, Stanley
Khan, Ayesha U.
Compres, Elsy V.
Zhang, Hui
Gerami, PedramAff1, Aff4
Wayne, Jeffrey D.Aff1, Aff2, Aff4, IDs00403021022298_cor7
Źródło:: Archives of Dermatological Research: Founded in 1869 as Archiv für Dermatologie und Syphilis. 314(3):285-292
: Czasopismo naukowe

Full Text Finder

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Risk factors and patterns of recurrence after sentinel lymph node biopsy for thin melanoma