Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Dual-layer spectral computed tomography: measuring relative electron density

Szczegóły

Tytuł:: Dual-layer spectral computed tomography: measuring relative electron density
Autorzy:: Mei, Kai
Ehn, Sebastian
Oechsner, Markus
Kopp, Felix K.
Pfeiffer, DanielaAff1, Aff2
Fingerle, Alexander A.
Pfeiffer, FranzAff1, Aff2
Combs, Stephanie E.
Wilkens, Jan J.
Rummeny, Ernst J.
Noël, Peter B.Aff1, Aff2
Źródło:: European Radiology Experimental. 2(1)
: Czasopismo naukowe

Full Text Finder

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Dual-layer spectral computed tomography: measuring relative electron density