Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Negative and Positive Impact of Roughness and Loss on Subwavelength Imaging for Superlens Structures

Szczegóły

Tytuł:: Negative and Positive Impact of Roughness and Loss on Subwavelength Imaging for Superlens Structures
Autorzy:: Guo, Zhen
Huang, Qizhao
Wang, Changtao
Gao, Ping
Zhang, Wei
Zhao, Zeyu
Yan, Lianshan
Luo, Xiangang
Źródło:: Plasmonics. February 2014 9(1):103-110
: Czasopismo naukowe

Pełny tekst

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Negative and Positive Impact of Roughness and Loss on Subwavelength Imaging for Superlens Structures