Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Multi-slice ptychography enables high-resolution measurements in extended chemical reactors

Tytuł:
Multi-slice ptychography enables high-resolution measurements in extended chemical reactors
Autorzy:
Kahnt, MaikAff1, Aff2
Grote, LukasAff1, Aff3
Brückner, DennisAff1, Aff4
Seyrich, MartinAff1, Aff4
Wittwer, FelixAff1, Aff4
Koziej, Dorota
Schroer, Christian G.Aff1, Aff4
Źródło:
Scientific Reports. 11(1)
Czasopismo naukowe
Zaloguj się, aby uzyskać dostęp do pełnego tekstu.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies