Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Linear Array Industrial Computerized Tomography Quantitative Detection Method for Small Defects Based on Coefficients of Variation

Szczegóły

Tytuł:: Linear Array Industrial Computerized Tomography Quantitative Detection Method for Small Defects Based on Coefficients of Variation
Autorzy:: Qi, ZichengAff1, Aff2
Ni, Peijun
Jiang, Wei
Wang, Ruolan
Źródło:: Journal of Electronic Materials. 50(4):2066-2074
: Czasopismo naukowe

Full Text Finder

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Linear Array Industrial Computerized Tomography Quantitative Detection Method for Small Defects Based on Coefficients of Variation