Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

QTL mapping for yield-related traits in wheat based on four RIL populations

Tytuł :
QTL mapping for yield-related traits in wheat based on four RIL populations
Autorzy :
Hu, Junmei
Wang, Xiaoqian
Zhang, Guangxu
Jiang, Peng
Chen, Wuying
Hao, Yongchao
Ma, Xin
Xu, Shoushen
Jia, Jizeng
Kong, Lingrang
Wang, Hongwei
Pokaż więcej
Źródło :
Theoretical and Applied Genetics: International Journal of Plant Breeding Research. 133(3):917-933
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies