- Tytuł :
- QTL mapping for yield-related traits in wheat based on four RIL populations
- Autorzy :
- Źródło :
- Theoretical and Applied Genetics: International Journal of Plant Breeding Research. 133(3):917-933
-
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.