Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ
Tytuł pozycji:

Surface-Temperature Measurement and Submicron Defect Isolation for Microelectronic Devices Using Thermoreflectance Microscopy

Tytuł :
Surface-Temperature Measurement and Submicron Defect Isolation for Microelectronic Devices Using Thermoreflectance Microscopy
Autorzy :
Ryu, Seon Young
Kim, Dong Uk
Kim, Jun Ki
Choi, Hae Young
Kim, Geon Hee
Chang, Ki Soo
Pokaż więcej
Źródło :
International Journal of Thermophysics: Journal of Thermophysical Properties and Thermophysics and Its Applications. June 2015 36(5-6):1217-1225
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies