- Tytuł:
- Dielectric Response and Capacitance Measurements of Ag/ PVAc-Si /p-Si Structure
- Autorzy:
- Źródło:
- Silicon. 14(16):10795-10805
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.