- Tytuł:
- Exploring the potential of deep learning and machine learning techniques for randomness analysis to enhance security on IoT
- Autorzy:
- Źródło:
- International Journal of Information Security. 23(2):1117-1130
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.