Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Ahn Y"" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Combining experiment and optical simulation in coherent X-ray nanobeam characterization of Si/SiGe semiconductor heterostructures.
Autorzy :
Tilka, J. A.
Park, J.
Ahn, Y.
Pateras, A.
Sampson, K. C.
Savage, D. E.
Prance, J. R.
Simmons, C. B.
Coppersmith, S. N.
Eriksson, M. A.
Lagally, M. G.
Holt, M. V.
Evans, P. G.
Pokaż więcej
Temat :
SIMULATION methods & models
X-ray reflection
SILICON compounds
CHEMICAL synthesis
ELECTRONIC materials
IONIZING radiation
X-ray spectra
Źródło :
Journal of Applied Physics; 2016, Vol. 120 Issue 1, p245-252, 8p, 1 Diagram, 4 Graphs
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies