Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Ukraiński (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Uniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaUniwersytet Ekonomiczny we Wrocławiu

Wyszukujesz frazę ""Ajayi, E. A."" wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Optical, Structural and Electrical Properties of Aluminum Doped Zinc Oxide Thin Films by MOCVD Technique.
    Autorzy:
    Ayinde, S. A.
    Fasakin, O.
    Olofinjana, B.
    Adedeji, A. V.
    Oyedare, P. O.
    Eleruja, M. A.
    Ajayi, E. O. B.
    Pokaż więcej
    Temat:
    ZINC oxide thin films
    ALUMINUM compounds
    RUTHERFORD backscattering spectrometry
    ENERGY dispersive X-ray spectroscopy
    X-ray diffraction
    Źródło:
    Journal of Electronic Materials; Jun2019, Vol. 48 Issue 6, p3655-3661, 7p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 1 Chart, 3 Graphs
    Czasopismo naukowe
    Szczegóły
    Tytuł:
    Compositional, Structural, Morphological, Optical and Electrical Property Evolutions in MOCVD Cu-Zn-S Thin Films Prepared at Different Temperatures Using a Single Solid Source Precursor.
    Autorzy:
    Efe, F. O.
    Olofinjana, B.
    Fasakin, O.
    Eleruja, M. A.
    Ajayi, E. O. B.
    Pokaż więcej
    Temat:
    METAL organic chemical vapor deposition
    THIN films
    OPTICAL properties
    THIN film deposition
    Źródło:
    Journal of Electronic Materials; Dec2019, Vol. 48 Issue 12, p8000-8013, 14p
    Czasopismo naukowe
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies