- Tytuł:
- Degradation of the Properties of SOS Ferroelectric Pseudo-MOS Transistors after Irradiation with Fast Heavy Xe and Bi Ions
- Autorzy:
- Źródło:
- Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 59(6):740-748
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.