- Tytuł:
- Craze microstructure characterization by low-angle electron diffraction and Fourier transforms of craze images
- Autorzy:
- Źródło:
- Journal of Materials Science. October 1986 21(10):3601-3610
Czasopismo naukowe
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.