Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Przeglądasz jako GOŚĆ

Wyszukujesz frazę ""Auret, F D"" wg kryterium: Autor


Tytuł :
Defects induced by solid state reactions at the tungsten-silicon carbide interface.
Autorzy :
Tunhuma, S. M.
Diale, M.
Legodi, M. J.
Nel, J. M.
Thabete, T. T.
Auret, F. D.
Pokaż więcej
Temat :
SCHOTTKY barrier diodes
CRYSTAL defects
SOLID state physics
SILICON carbide
DEEP level transient spectroscopy
Źródło :
Journal of Applied Physics; 2018, Vol. 123 Issue 16, pN.PAG-N.PAG, 7p, 1 Black and White Photograph, 2 Charts, 5 Graphs
Czasopismo naukowe

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies